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NED-LMD WG近眼测量系统 ——专用于波导片测试

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专用于分析下一代用于AR眼镜的波导镜片
 
设备制造商可以通过测试以下层面来确定设计效率要求:
 
波导级别
光机级别
光机+波导级别
 
系统优势
所有现有XR测试仪器中最高的成像分辨率(>250像素/度)
最大的设备视场覆盖范围(>160度H,90度V)
全自动、标准化的软件测试套件,测量透明波导图像质量和着色缺陷(>20 项单独测试,带或不带环境光模式)
能够使用集成的光谱辐射计进行大动态范围(0.05 – 10万尼特)和准确的色彩测量
 
测量能力

按亮度和对比度划分的视野

色差

See-through雾霾

眼盒效率

棋盘格对比

色域

亮度均匀性

鬼像

散光

透视透射率和反射率

设计眼盒体积

分辨率和MTF(矢状面和切口)

透视喇叭口

瞳孔效率

对比度

图像几何失真

颜色均匀性

 

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